1. 高分辨罗兰环结构X 射线单色器， Bragg 角范围55°-85°，能量范围：不小于5-12 keV，最高可扩展到19 keV；光通量：500000-800000（7-9 keV） 2. 配备15 块Johann 型球形弯曲（Si 或Ge）晶体； 3. XAFS 模式采用1.2 kW 射线源(Mo/Ag)；XES 模式采用100 W 射线源(Pd/W) 4. XAFS 能量分辨率0.5-1.5 eV（7-9 keV），重复性< 50meV；XES 能量分辨率1.0-1.5 eV（7-9 keV），重复性< 25meV；

X 射线吸收精细结构谱仪用于X 射线吸收精细结构光谱(XAFS)测试以及X 射线发射谱(XES)测试，联合XAFS 和XES 技术研究活性金属元素的电子结构和原子结构信息。XAFS 主要包括两个部分：近边区（XANES，X-rayAbsorption Near-Edge Structure）和扩展边（EXAFS，Extended X-ray AbsorptionFine Structure）。XANES 反映了原子吸收边的精细结构，可以提供吸收原子的电子结构信息，如价态、对称性、轨道占据等；EXAFS 反映了吸收原子周围配位原子的信息，如配位原子种类、键长、配位数、无序度等。XES 可获取氧化态，自旋态，相对含量等。