主要规格和技术参数
1，二维CMOS面探测器有效面积100X100，无缩锥比。
2，高强度微焦斑双光源系统,提供专门匹配微焦点光源的多层膜聚焦镜。
3，高精度kappa四轴测角仪。
4，系统控制、数据采集分析、单晶结构解析软件包。
5，液氮低温装置。
主要功能及特色
测试单晶样品的晶胞参数及晶体结构。新型的微焦斑双光源和高灵敏度，高分辨率的面探测器，可以获得更多科观察衍射点，更准确地确定结构。有利于检测衍射能力较弱的小分子晶体。铜靶可以用来做手性结构的绝对构型，以及小的有机样品的测试。
主要附件及配置
低温系统